MCT200涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀
更新時(shí)間：2025-07-14
產(chǎn)品特點(diǎn):
MCT200涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀介紹： MCT200涂層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，高精度、高亮屏、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、反應(yīng)靈敏、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無(wú)校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕、美觀大方。*，現(xiàn)貨供應(yīng)，銷(xiāo)售： 王海峰
MCT200涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀介紹： MCT200涂層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，高精度、高亮屏、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、反應(yīng)靈敏、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無(wú)校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕、美觀大方。*，現(xiàn)貨供應(yīng)，銷(xiāo)售： 王海峰
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產(chǎn)品介紹
MCT200涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀概述
MCT200便攜式涂（鍍）膜層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，高精度、高亮屏、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、反應(yīng)靈敏、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無(wú)校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕、美觀大方；MCT200涂層測(cè)厚儀具有存儲(chǔ)、讀出、低電壓指示、其性能達(dá)到當(dāng)代同類(lèi)儀器的較高水平，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂層、鍍層厚度的測(cè)量，也可進(jìn)行薄膜厚度測(cè)量。MCT200涂層測(cè)厚儀能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域，是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)*的儀器。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng) 。
MCT200涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
l MCT200涂層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，磁感應(yīng)可用來(lái)測(cè)量所有磁性基體（如鋼、鐵）上的非磁性涂鍍層（如油漆、防腐層、鍍鋅層、鍍銅層等）。
渦流可用來(lái)測(cè)量所有非磁性金屬（如銅、鋁、不銹鋼）上面的非導(dǎo)電涂層（如油漆、防腐層、氧化膜）。
測(cè)量范圍：（0～1250） μm（F1、N1測(cè)頭），F10測(cè)頭可達(dá)10mm；
渦流可用來(lái)測(cè)量所有非磁性金屬（如銅、鋁、不銹鋼）上面的非導(dǎo)電涂層（如油漆、防腐層、氧化膜）。
測(cè)量范圍：（0～1250） μm（F1、N1測(cè)頭），F10測(cè)頭可達(dá)10mm；
l 分 辨 率：0.1μm （F1、N1測(cè)頭）
l 示值精度：±（3%H+1） μm; H為被測(cè)涂層厚度
l 顯示方法：高對(duì)比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；
l 存儲(chǔ)容量：可存儲(chǔ)20組（每組zui多50個(gè)測(cè)量值）測(cè)量數(shù)據(jù)
l 單位制：公制（μm）、英制（mil），可自由轉(zhuǎn)換
l 工作電壓：3V（2節(jié)5號(hào)堿性電池）
l 持續(xù)工作時(shí)間：大于200小時(shí)（不開(kāi)背光時(shí)）
l 通訊接口：USB1.1，可與PC機(jī)連接、通訊
l 外形尺寸：125mm×67mm×31 mm
l 整機(jī)重量：340g
MCT200涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀主要功能
l 有十種測(cè)頭類(lèi)型可供選擇，測(cè)頭接觸部件鍍硬鉻或?yàn)榧t寶石，經(jīng)久耐用；
l 自動(dòng)識(shí)別探頭
l 可以在測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù)，采用手機(jī)菜單式功能選擇方式，操作十分簡(jiǎn)便。
l 可設(shè)定上下限值，測(cè)量結(jié)果大于等于上下限數(shù)值時(shí)，儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。
l 穩(wěn)定性*，不必校正便可長(zhǎng)期使用。
l 可以對(duì)單個(gè)或多個(gè)數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除
l 操作過(guò)程中有蜂鳴聲提示
l 通過(guò)屏顯或蜂鳴聲對(duì)錯(cuò)誤進(jìn)行提示
l 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO.）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）
l 通過(guò)選擇相應(yīng)的測(cè)頭，既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
l 具有測(cè)頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、一點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能, 并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
l 具有測(cè)量狀態(tài)提示功能；
l 有EL背光顯示，方便在光線昏暗環(huán)境中使用；
l 有剩余電量指示功能，可實(shí)時(shí)顯示電池剩余電量；
l 具有自動(dòng)休眠、自動(dòng)關(guān)機(jī)等節(jié)電功能；
l 帶有USB1.1通訊接口，可將測(cè)量值傳輸至PC機(jī)。
l 可選擇配備微機(jī)軟件，具有傳輸測(cè)量結(jié)果、測(cè)值存儲(chǔ)管理、測(cè)值統(tǒng)計(jì)分析、打印測(cè)值報(bào)告等豐富功能；
l 采用鋁制外殼，小巧、便攜、堅(jiān)實(shí)耐用，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動(dòng)、沖擊和電磁干擾；
l MCT200便攜式涂（鍍）膜層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 4956─2003 磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法
GB/T 4956─2003 磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法
GB/T 4957─2003 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量渦流法
JB/T 8393─1996 磁性、渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x
JG 818─2005 《磁性、電渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x》
MCT200涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀器配置
| | 序號(hào) | 名稱(chēng) | 數(shù)量 | 備注 |
| 標(biāo)準(zhǔn) 配置 | 1 | 主機(jī) | 1臺(tái) | |
| 2 | F1測(cè)頭 | 1只 | 或N1測(cè)頭 | |
| 3 | 校準(zhǔn)片 | 5片 | | |
| 4 | 校零基體 | 1塊 | 根據(jù)測(cè)頭選配 | |
| 5 | 儀器箱 | 1只 | | |
| 6 | 隨機(jī)資料 | 1份 | | |
| 7 | AA（5號(hào)）尺寸堿性電池 | 2只 | | |
| 8 | | | | |
| 可選 配置 | 9 | 其它類(lèi)型測(cè)頭 | | 根據(jù)用途選擇 |
| 10 | 數(shù)據(jù)管理軟件 | 1套 | 軟件光盤(pán) | |
| 11 | USB通訊線纜 | 1條 | |
5工作條件
環(huán)境溫度：操作溫度－20℃～＋50℃；存儲(chǔ)溫度：-30℃～＋70℃
相對(duì)濕度≤90％；
周?chē)h(huán)境無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)烈磁場(chǎng)、無(wú)腐蝕性介質(zhì)及嚴(yán)重粉塵。
| 覆蓋層 基體 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、 塑料和陽(yáng)極化處理等） | ||||
| 覆蓋層厚度不超過(guò)100mm | 覆蓋層厚度超過(guò)100mm | ||||
| 如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測(cè)面積的直徑 大于30mm | F400型測(cè)頭 0～400mm F1型測(cè)頭 0～1250mm | F1型測(cè)頭 0～1250mm F5型測(cè)頭 0～5mm F10型測(cè)頭 0～10mm | ||
| 被測(cè)面積的直徑 小于30mm | F400型測(cè)頭 0～400mm | F1型測(cè)頭 0～1250mm F400型測(cè)頭 0～400mm | |||
| 如銅、鋁、黃銅、鋅、錫 等 有色金屬 | 被測(cè)面積的直徑 大于10mm | N400型測(cè)頭 0～400mm | N400型測(cè)頭 0～400mm N10型測(cè)頭 0～10mm | ||
| 被測(cè)面積的直徑 小于10mm | N400型測(cè)頭 0～400mm | N1型測(cè)頭 0～1250mm N400型測(cè)頭 0～400mm | |||
| | | | | ||
| 覆蓋層 基體 | 非磁性的有色金屬覆蓋層（如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等） | ||||
| 覆蓋層厚度不超過(guò)100mm | 覆蓋層厚度超過(guò)100mm | ||||
| 如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測(cè)面積的直徑 大于30mm | F400型測(cè)頭 0～400mm | F400型測(cè)頭 0～400mm F1型測(cè)頭 0～1250mm F5型測(cè)頭 0～5mm F10型測(cè)頭 0～10mmm | ||
| 被測(cè)面積的直徑 小于30mm | F400型測(cè)頭 0～400mm F1型測(cè)頭 0～1250mm | F400型測(cè)頭 0～400µm F1型測(cè)頭 0～1250mm | |||
| 如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等 有色金屬 | 被測(cè)面積的直徑 大于10mm | 僅用于銅上鍍鉻 N400型測(cè)頭 0～40mm | -------- | ||
| 被測(cè)面積的直徑 小于10mm | -------- | -------- | |||
| 塑料、印刷線路非金屬基體 | 被測(cè)面積大 | CN200型測(cè)頭10～200mm | CN200型測(cè)頭10～200mm | ||
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